SN74LVTH18502APMG4

零件编号:
SN74LVTH18502APMG4
制造商:
Texas Instruments
描述:
IC SCAN-TEST-DEV/XCVR 64-LQFP
封装:
-
包装:
Tray
数量:
0
RoHS 状态:
支持
分享:
PDF:
-

起订量:0

数量 价格 总价
-

产品参数

零件状态 Obsolete
工作温度 -40°C ~ 85°C
安装类型 Surface Mount
封装 / 外壳 64-LQFP
供应商器件封装 64-LQFP (10x10)
逻辑类型 ABT Scan Test Device With Universal Bus Transceivers