SNJ54ABT8652JT

Номер детали:
SNJ54ABT8652JT
Производитель:
Texas Instruments
Описание:
IC SCAN TEST DEVICE 8BIT 28-CDIP
Упаковка:
-
Упаковка:
Tube
Количество:
0
Статус RoHS:
Поддержка
Поделиться:
PDF:
-

Минимальный объем заказа:0

Количество Цена Общая стоимость
-

Параметры продукта

Тип монтажа Through Hole
Статус детали Active
Рабочая температура -55°C ~ 125°C
Количество битов 8
Напряжение питания 4.5V ~ 5.5V
Поставщик Устройство Корпус 28-CDIP
Логический тип Scan Test Device with Bus Transceiver and Registers
Корпус 28-CDIP (0.300", 7.62mm)