SN74ABT8245DWG4

Номер детали:
SN74ABT8245DWG4
Производитель:
Texas Instruments
Описание:
IC SCAN TEST DEVICE 8BIT 24-SOIC
Упаковка:
-
Упаковка:
Tube
Количество:
0
Статус RoHS:
Поддержка
Поделиться:
PDF:
-

Минимальный объем заказа:75

Количество Цена Общая стоимость
75+ $5.8 $435

Параметры продукта

Рабочая температура -40°C ~ 85°C
Статус детали Discontinued at
Тип монтажа Surface Mount
Количество битов 8
Напряжение питания 4.5V ~ 5.5V
Корпус 24-SOIC (0.295", 7.50mm Width)
Поставщик Устройство Корпус 24-SOIC
Логический тип Scan Test Device with Bus Transceivers