SNJ54ABT8652JT

Número de pieza:
SNJ54ABT8652JT
Fabricante:
Texas Instruments
Descripción:
IC SCAN TEST DEVICE 8BIT 28-CDIP
Embalaje:
-
Embalaje:
Tube
Cantidad:
0
Estado RoHS:
Apoyo
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Cantidad Precio Precio total
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Parámetros del producto

Tipo de Montaje Through Hole
Estado de la Pieza Active
Temperatura de Operación -55°C ~ 125°C
Número de Bits 8
Tensión de alimentación 4.5V ~ 5.5V
Proveedor Dispositivo Paquete 28-CDIP
Tipo de Lógica Scan Test Device with Bus Transceiver and Registers
Paquete / Carcasa 28-CDIP (0.300", 7.62mm)